TY  - JOUR

T1  - Analysis of Bi Distribution in Epitaxial GaAsBi by aberration-corrected HAADF-STEM.

JO  - Nanoscale Research Letters

UR  - http://eprints.whiterose.ac.uk/130799/

PY  - 2018/04/25

AU  - Baladés N

AU  - Sales DL

AU  - Herrera M

AU  - Tan CH

AU  - Liu Y

AU  - Richards RD

AU  - Molina SI

ED  - 

DO  - DOI: 10.1186/s11671-018-2530-5

VL  - 13

IS  - 1

Y2  - 2024/12/20

ER  -