TY  - JOUR

T1  - Avalanche Gain and Energy Resolution of Semiconductor X-ray Detectors

JO  - IEEE T ELECTRON DEV

PY  - 2011/06/01

AU  - Tan CH

AU  - Gomes RB

AU  - David JPR

AU  - Barnett AM

AU  - Bassford DJ

AU  - Lees JE

AU  - Ng JS

ED  - 

DO  - DOI: 10.1109/TED.2011.2121915

VL  - 58

IS  - 6

SP  - 1696

EP  - 1701

Y2  - 2024/12/20

ER  -