TY  - JOUR

T1  - Impact ionization in submicron silicon devices

JO  - J APPL PHYS

PY  - 2004/05/15

AU  - Massey DJ

AU  - David JPR

AU  - Tan CH

AU  - Ng BK

AU  - Rees GJ

AU  - Robbins DJ

AU  - Herbert DC

ED  - 

DO  - DOI: 10.1063/1.1691177

VL  - 95

IS  - 10

SP  - 5931

EP  - 5933

Y2  - 2024/12/20

ER  -