TY  - JOUR

T1  - Monte Carlo simulation of high field transport and impact ionization in GaAs p<sup>+</sup>in<sup>+</sup> diodes

JO  - IEEE Transactions on Electron Devices

PY  - 1996/01/01

AU  - Dunn GM

AU  - Rees GJ

AU  - David JPR

AU  - Plimmer SA

AU  - Herbert DC

ED  - 

DO  - DOI: 10.1109/16.544426

VL  - 43

IS  - 12

SP  - 2303

EP  - 2305

Y2  - 2024/12/20

ER  -