TY  - JOUR

T1  - Analysis of the breakdown voltage in SOI and SOS technologies

JO  - Solid-State Electronics

PY  - 2002/01/01

AU  - Roig J

AU  - Vellvehi M

AU  - Flores D

AU  - Rebollo J

AU  - Millan J

AU  - Krishnan S

AU  - De Souza MM

AU  - Sankara Narayanan EM

ED  - 

DO  - DOI: 10.1016/S0038-1101(01)00265-9

VL  - 46

IS  - 2

SP  - 255

EP  - 261

Y2  - 2024/12/20

ER  -