TY  - JOUR

T1  - Excess noise characteristics of thin AlAsSb APDs

JO  - IEEE Transactions on Electron Devices

PY  - 2012/01/01

AU  - Xie J

AU  - Xie S

AU  - Tozer RC

AU  - Tan CH

ED  - 

DO  - DOI: 10.1109/TED.2012.2187211

VL  - 59

IS  - 5

SP  - 1475

EP  - 1479

Y2  - 2024/12/20

ER  -